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01.

5G 통신이 산업 전반(자율주행, 스마트 공장 등)에 사용되면서, 단기 통신 두절도 긴급재난상황을 만들게 됩니다.

02.

단기 통신 두절을 막기 위해서, 통신용 디바이스의 반도체 수명 예측이 필수적으로 요구됩니다.

03.

반도체 수명 예측을 위한 신뢰성 테스트는 HTOL (High-Temperature Operating Life-test)과 ALT (Accelerated Life Test)입니다.

04.

반도체 수명 테스트 진행 시, 통신용 디바이스의 실제 동작 조건을 모사하기 위해서 RF (Radio Frequency) 신호가 스트레스 인자로 반드시 공급되어야 합니다.

05.

RF스트레스 없이 진행된 시험과 RF 스트레스와 함께 진행된 시험에서 수명 예측의 차이가 존재합니다. 일반적으로 RF 스트레스와
함께 진행된 시험에서 디바이스의 수명이 짧아집니다. RF 스트레스가 적용되었을 때, RF 디바이스의 열화 원인이 달라지기 때문입니다.

06.

JEP-118, JESD-226, 그리고 JESD-237 는 RF 디바이스의 수명 평가를 위한 JEDEC 표준입니다.

07.

QRT의 RF 분석 시스템은 RF 스트레스를 공급하는 수명 평가를 쉽고 효율적으로 진행할 수 있도록 돕습니다. 결과적으로, 시험 셋업 시간과 평가 비용이 절약됩니다.